半导体器件能力试验,AEC-Q101认证试验
更新:2025-01-27 09:10 编号:30194274 发布IP:113.107.3.34 浏览:8次- 发布企业
- 广电计量检测集团股份有限公司商铺
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- 资质核验:已通过营业执照认证入驻顺企:第24年主体名称:广电计量检测集团股份有限公司组织机构代码:12440000724756874M
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- 品牌
- 广电计量
- 服务区域
- 全国
- 服务资质
- CMA/CNAS,60+主机厂认可
- 关键词
- 半导体器件能力试验,半导体认证检测,AEC-Q101认证试验,AEC-Q101测试,AEC-Q101
- 所在地
- 广州市番禺区石碁镇岐山路8号150
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- 18218862409
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- 聂凤婷 请说明来自顺企网,优惠更多
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详细介绍
服务背景
AEC-Q101对对各类半导体分立器件的车用可靠性要求进行了梳理。AEC-Q101试验不仅是对元器件可靠性的国际通用报告,更是打开车载供应链的敲门砖。广电计量在SiC第三代半导体器件的AEC-Q认证上具有丰富的实战经验,为您提供专业可靠的AEC-Q101认证服务,我们也开展了间歇工作寿命(IOL)、HAST、H3TRB、HTRB、HTGB、高压蒸煮(Autoclave)试验服务,设备能力完全覆盖以SiC为第三代半导体器件的可靠性试验能力。半导体器件能力试验,AEC-Q101认证试验
随着技术的进步,各类半导体功率器件开始由实验室阶段走向商业应用,尤其以SiC为代表的第三代半导体器件国产化的脚步加快。但车用分立器件市场均被国外巨头所把控,国产器件很难分一杯羹,主要的原因之一即是可靠性得不到认可。
测试周期
2-3个月,提供全面的认证计划、测试等服务
产品范围
二、三极管、晶体管、MOS、IBGT、TVS管、Zener、闸流管等半导体分立器件
测试项目
序号 | 测试项目 | 缩写 | 样品数/批 | 批数 | 测试方法 |
1 | Pre- and Post-StressElectrical and Photometric Test | TEST | 所有应力试验前后均进行测试 | 用户规范或供应商的标准规范 | |
2 | Pre-conditioning | PC | SMD产品在7、8、9和10试验前预处理 | JESD22-A113 | |
3 | External Visual | EV | 每项试验前后均进行测试 | JESD22-B101 | |
4 | ParametricVerification | PV | 25 | 3 Note A | 用户规范 |
5 | HighTemperature Reverse Bias | HTRB | 77 | 3 NoteB | MIL-STD-750-1 M1038 Method A |
5a | ACblocking voltage | ACBV | 77 | 3 NoteB | MIL-STD-750-1 M1040 Test Condition A |
5b | HighTemperature Forward Bias | HTFB | 77 | 3 NoteB | JESD22 A-108 |
5c | SteadyState Operational | SSOP | 77 | 3 NoteB | MIL-STD-750-1 M1038 Condition B(Zeners) |
6 | HighTemperature Gate Bias | HTGB | 77 | 3 NoteB | JESD22 A-108 |
7 | Temperature Cycling | TC | 77 | 3 NoteB | JESD22 A-104 Appendix 6 |
7a | Temperature Cycling Hot Test | TCHT | 77 | 3 NoteB | JESD22 A-104 Appendix 6 |
7a alt | TCDelamination Test | TCDT | 77 | 3 NoteB | JESD22 A-104 Appendix 6 J-STD-035 |
7b | Wire BondIntegrity | WBI | 5 | 3 NoteB | MIL-STD-750 Method 2037 |
8 | UnbiasedHighly Accelerated Stress Test | UHAST | 77 | 3 NoteB | JESD22 A-118 |
8 alt | Autoclave | AC | 77 | 3 NoteB | JESD22 A-102 |
9 | HighlyAccelerated Stress Test | HAST | 77 | 3 NoteB | JESD22 A-110 |
9 alt | HighHumidity High Temp. Reverse Bias | H3TRB | 77 | 3 NoteB | JESD22 A-101 |
10 | Intermittent Operational Life | IOL | 77 | 3 NoteB | MIL-STD-750 Method 1037 |
10 alt | Powerand Temperature Cycle | PTC | 77 | 3 NoteB | JESD22 A-105 |
11 | ESD Characterization | ESD | 30 HBM | 1 | AEC-Q101-001 |
30 CDM | 1 | AEC-Q101-005 | |||
12 | Destructive Physical Analysis | DPA | 2 | 1NoteB | AEC-Q101-004 Section 4 |
13 | Physical Dimension | PD | 30 | 1 | JESD22 B-100 |
14 | TerminalStrength | TS | 30 | 1 | MIL-STD-750 Method 2036 |
15 | Resistanceto Solvents | RTS | 30 | 1 | JESD22 B-107 |
16 | ConstantAcceleration | CA | 30 | 1 | MIL-STD-750 Method 2006 |
17 | VibrationVariable Frequency | VVF | 项目16至19是密封包装的顺序测试。 (请参阅图例页面上的注释H.) | JEDEC JESD22-B103 | |
18 | Mechanical Shock | MS | JEDEC JESD22-B104 | ||
19 | Hermeticity | HER | JESD22-A109 | ||
20 | Resistanceto Solder Heat | RSH | 30 | 1 | JESD22 A-111 (SMD) B-106 (PTH) |
21 | Solderability | SD | 10 | 1 NoteB | J-STD-002 JESD22B102 |
22 | Thermal Resistance | TR | 10 | 1 | JESD24-3,24-4,26-6视情况而定 |
23 | WireBond Strength | WBS | Zui少5个器件的10条焊线 | 1 | MIL-STD-750 Method 2037 |
24 | Bond Shear | BS | Zui少5个器件的10条焊线 | 1 | AEC-Q101-003 |
25 | DieShear | DS | 5 | 1 | MIL-STD-750 |
Method 2017 | |||||
26 | Unclamped Inductive Switching | UIS | 5 | 1 | AEC-Q101-004 Section 2 |
27 | DielectricIntegrity | DI | 5 | 1 | AEC-Q101-004 Section 3 |
28 | ShortCircuit Reliability Characterization | SCR | 10 | 3 NoteB | AEC-Q101-006 |
29 | Lead Free | LF | AEC-Q005 |
成立日期 | 2002年05月24日 | ||
法定代表人 | 杨文峰 | ||
主营产品 | 海洋环境服务;环境保护监测;生态资源监测;机动车检验检测服务;计量服务;环境应急治理服务;大气环境污染防治服务;水环境污染防治服务;土壤环境污染防治服务 | ||
经营范围 | 海洋环境服务;环境保护监测;生态资源监测;机动车检验检测服务;计量服务;环境应急治理服务;大气环境污染防治服务;水环境污染防治服务;土壤环境污染防治服务 | ||
公司简介 | GRGT是原国家信息产业部军工电子602计量测试站,已通过国家实验室(CNAS)、国防实验室(DILAC)和总装军用实验室认可,获得中国计量认证(CMA)、食品检验认证(CMAF)和GJB9001B质量体系认证,检测与认证结果得到国际公认。已累计获得国家、国防检测校准实验室认可项目累计达1498项,军用实验室认可项目207项,检验检测机构资质认定共计获得53类208项3532个参数的认可。GRGT ... |
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