AEC-Q104认证测试,车用多芯片组件检测

服务背景

AEC-Q104是基于失效机制的车用多芯片组件（MCM）应力测试认证规范。MCM多芯片模组规范解决了困扰IC设计厂商与Tier1汽车模块商在MCM、系统构装(SystemIn Package, SIP)、堆叠式封装(StackedChip)等复杂多芯片型态应该依循IC，还是模块规范的难题。更是在车用行业规范中，首次定义车用板阶可靠性测试项目(BoardLevel Reliability,BLR)的规范。AEC-Q104认证测试,车用多芯片组件检测

产品范围

车用多芯片组件

测试项目

测试项目分组 

● A组：加速环境应力测试（6项）

● B组：加速寿命模拟测试（3项）

● C组：封装组装完整性测试（8项）

● D组：晶圆制造可靠度测试（5项）

● E组：电气特性确认测试（10项）

● F组：瑕疵筛选监控测试（2项）

● G组：空封器件完整性测试（8项）

● H组：模块专项测试（7项）

测试周期

2-3个月，提供全面的认证计划、测试等服务

测试流程

常见问题

Q：AEC-Q104与其他AECQ认证服务之间的关系？

A：AEC-Q104规范中，共分为A-H八大系列。其中，一大原则，在于MCM上使用的所有组件，包括电阻电容电感等被动组件、二极管离散组件、以及IC本身，在组合前若有通过AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200，MCM产品只需进行AEC-Q104H内仅7项的测试，包括4项可靠性测试:TCT(温度循环)、Drop(落下)、LowTemperatureStorage Life(LTSL)、Start Up &TemperatureSteps(STEP)；以及3项失效类检验:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、DestructivePhysical(DPA)；

若MCM上的组件未先通过AEC-Q100、AEC-Q101与AEC-Q200，那必须从AEC-Q104的A-H八大测项共49项目中，依据产品应用，决定验证项目，验证项目会变得比较多。

AEC-Q试验实例

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