AD/DA转换器电性能测试-芯片性能可靠性检验

服务内容

广电计量目前已实现12位AD/DA转换器芯片电性能测试程序的开发。

服务范围

数据传输系统、自动测试设备、医疗信息处理、电视信号的数字化、图像信号的处理和识别、数字通信和语音信息处理等将数字量和模拟量互相转换电路的仪器设备。

检测标准

SJ 20961-2006 集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理。

检测项目

AD/DA转换器芯片电性能测试及程序开发，其中测试技术指标：

（1）A/D转换器参数符号及名称

（2）D/A转换器参数符号及名称

相关资质

CMA、CNAS

测试周期

开发周期：4-8周；常规测试周期：3-5个工作日。

服务背景

在现代工业化社会中，工业的生产场景涉及到方方面面与计算机协同生产的需求。在数字系统的应用中，通常要将一些被测量的连续变化的物理量通过传感器送到数字系统进行加工处理，经过处理获得的输出数据又要送回物理系统，对系统物理量进行调节和控制。

在实际生产场景中，是由设备的传感器对生产过程中产生的电压、电流、压力、温度、位移、流量等的实时改变进行记录并转换成模拟电信号。传感器输出的模拟电信号需转换成数字信号（计算机内部需要的离散数字量，即二进制数、十进制数等），数字系统才能对模拟信号进行处理。这种模拟量到数字量的转换称为模-数(A/D)转换。处理后获得的数字量有时又需转换成模拟量返回到实际生产场景中指引设备进行后续工作，这种转换称为数-模（D/A)变换。

A/D转换器（Analog to Digital Converter简称为ADC）和D/A转换器(Digital to AnalogConverter简称为DAC）是数字系统和模拟系统的接口电路。通过A/D和D/A两个方向的数据转换，即可实现生产设备与计算机的协同生产，如汽车流水线上的机械手和雷达。

越复杂的生产场景对AD/DA转换器芯片的可靠性越高，电性能测试是检验AD/DA芯片功能性能可靠性的主要手段。

我们的优势

广电计量聚焦集成电路失效分析技术，拥有业界认可的专家团队及先进的失效分析设备，可为客户提供完整的失效分析检测服务，帮助制造商快速准确地定位失效，找到失效根源。我们可针对客⼾的研发需求，提供不同应⽤下的失效分析咨询、协助客户开展实验规划、以及分析测试服务，如配合客户开展NPI阶段验证，在量产阶段(MP)协助客户完成批次性失效分析。

常见问题

Q：AD/DA转换器电性能测试常见误差有哪些？

A：零点误差、增益误差、差分非线性误差及积分非线性误差。