粉末样品XRD半定量检测

       项目简介

      当一束单色X射线入射到晶体时，由于晶体是由原子规则排列成的晶胞组成，这些规则排列的原子间距离与入射X射线波长有X射线衍射分析相同数量级，故由不同原子散射的X射线相互干涉，在某些特殊方向上产生强X射线衍射，衍射线在空间分布的方位和强度，与晶体结构密切相关，每种晶体所产生的衍射花样都反映出该晶体内部的原子分配规律。这就是X射线衍射的基本原理。

       常见项目

       铜靶-X射线多晶衍射（XRD）

      钴靶-X射线多晶衍射（钴靶XRD）：XRD的光源来自于靶材的特征X射线，对于含有较多Fe，Ni，Mn，Cr元素的样品，为避免Cu靶材产生的特征X射线激发样品的荧光辐射，使图样清晰。建议使用Co靶测试。

      变温X射线多晶衍射（变温XRD）：材料在升降温过程中有可能发生多种转化，物相转变是其中之一。通过变温原位XRD可以实时检测材料在温度范围内的相变。在高温区间由于原子热振动加剧，XRD数据可能会出现质量较差的情况。

      掠入射XRD（GIXRD）：常规XRD采用的是X射线直射样品，由于X射线的穿深较大，对有基底的薄膜样品，薄膜的峰经常被基底的峰掩盖。掠入射采用与样品近似平行的入射角度，使X射线仅照射在样品表面，着重关注薄膜样品的信号，规避基底信号。

      微区XRD：常规XRD扫描范围较大，微区可以仅关注样品中的某个局部。关注区域直径一般在200微米-1毫米。

      高分辨XRD：HRXRD是一种基于XRD的一种新型测试模式，广泛用于单晶质量、外延薄膜的厚度、组分、晶胞参数、缺陷、失配、弛豫、应力等结构参数的测试。

      XRD摇摆曲线：摇摆曲线测试也叫做w扫描，是一种测试某个晶面在样品中角发散大小的测试方法。

      二维广角X射线衍射（2D-WAXRD）：X射线在平面内发生散射，由检测器记录二维数据，一般用于研究材料的取向。可通过2D-XRD复现常规XRD的结果，也可以通过方位角曲线计算材料的取向度。