扫描电子显微镜分析方法-简称SEM

扫描电子显微镜分析方法-简称SEM  

扫描电子显微镜形貌观察与能谱分析法主要对金属材料的观察与分析，包括黑色金属（碳素钢、合金钢、不锈钢、铸铁、铁合金等）、有色金属（铝合金、铜合金、镁合金、钛合金、锌合金、镍合金等）、磁性材料、半导体材料、陶瓷材料、粉体材料、纳米材料和矿物等。目前，公司的场发射扫描电镜，放大倍数范围在10倍～30万倍之间。

扫描电镜配备了侧位二次电子探头、高位探头、背散射探头等探测器。在铝合金、镁合金、钛合金、高温合金、新型磁性功能材料、新能源材料、微电子材料等领域开展了大量的分析工作，在航空航天、轨道交通、海洋船舶、电子通信等重点工程领域应用的各种轴承、吊装装置、冷凝装置金属部件、通信框架材料的质量评价与失效分析方面积累了大量的经验。实验室拥有一支具有扎实理论基础和丰富实践经验的专业技术人才队伍，可以对各类金属材料进行测试，出具准确的实验数据，满足客户的检测需求。

方法简介

扫描电镜SEM（Scanning ElectronMicroscope）采用细聚焦的电子束轰击样品表面，通过电子与样品相互作用产生二次电子、背散射电子等信号，通过相应的探测器收集这些信号，从而实现对样品的观察与分析。扫描电镜具有大景深、放大倍数范围大、分辨率高和综合分析能力强等优点。本检测项目可用于材料组织或表面形貌的观察，材料断口分析及失效分析，纳米材料的表征，材料中各相的分布及微区成分分析等。可放大倍数范围：10～300000倍，微区成分分析：大于4号元素。

检测标准

GB/T17361-2013 微束分析 沉积岩中自生粘土矿物鉴定扫描电子显微镜及能谱仪方法

ASTM B748-90(reapproved 2016)采用扫描电子显微镜测量横截面测定金属膜层厚度的方法  

JY/T0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则

JY-T010-1996 分析型扫描电子显微镜方法通则

GB∕T3488.2-2018 硬质合金 显微组织的金相测定 第2部分：WC晶粒尺寸的测量