河南铝粉氧化铝含量检测 铝粉其他成分化验

一、杂质对氧化铝的性能影响影响氧化铝性能的杂质元素有14-15种之多，常见而又特别有害的主要有4~5种，它们是Na2O、Fe2O3、SiO2、CaO、MgO等。下面将对部分杂质元素及其对氧化铝性能的影响做简单分析。 

 1、杂质Na2O的影响氧化钠杂质能显著影响氧化铝烧结瓷体的介质损耗，氧化钠含量的提高一般都要伴随tgδ(tgδ为介质损耗角的正切)值的显著增大。氧化钠对氧化铝瓷体tgδ提高的有害影响与瓷体中高铝酸钠(Na2O·11Al2O3)的存在有关。Na2O·11Al2O3是Na2O在高温(1400℃以上)锻烧时与Al2O3反应形成的，又称β-Al2O3。 在锻烧过程中，高铝酸钠还会影响Al2O3的转化速度和转化率，且使氧化铝的晶粒变粗，比表面积减小，晶形也不规则。它的存在还损害陶瓷的电气性能，降低耐火度。Na2O是一种危害较大的杂质，应尽可能除掉。 

 2、杂质Fe2O3的影响氧化铁对陶瓷的影响主要表现在以下方面：陶瓷的烧结温度变窄；降低陶瓷的冷热性能；降低陶瓷的电击穿强度和抗折强度；影响陶瓷的白度，还容易在陶瓷釉面上产生色斑。原料中的氧化铁的含量较低，在锻烧生产过程中由于铁制设备的磨损等进入氧化铝造成二次污染，使铁含量超标。在生产过程中必须进行磁力除铁，避免和消除生产过程中可能产生的二次污染。 

 3、杂质SiO2的影响在陶瓷中的SiO2将以莫来石（3Al2O3·2SiO2）次级晶相存在，如果SiO2增加，次晶相增多，主晶相α-Al2O3含量就会减少，将影响陶瓷的性能。我国的低钠氧化铝SiO2含量比国外的低钠氧化铝高2-3倍，并不是因为我国的原料含硅量太高。杂质SiO2增多的主要原因是有些工厂的环卫生条件很差、生产管理不严、产品质量意识淡薄,使尘土和窑炉耐火砖粉末混入,造成二次污染。  4、杂质CaO和MgO的影响CaO和MgO在陶瓷中形成六铝酸钙CaO·Al2O3和尖晶石MgO·Al2O3次级晶相，如果CaO和MgO含量增多，主晶相α-Al2O3就会减少。西方和我国的军用氧化铝规定：Cao和Mgo含量之和不能超过0.05%。 

  二、氧化铝杂质元素常用检测方法 

1、原子吸收光谱法(AA)对氧化铝化学元素的检测方法中，原子吸收光谱法是基础的检测方式，在化学分析领域中，原子吸收光谱仪是一项非常重要的分析仪器，该方法的原理就是将待测的元素分离出来，对其基态的原子特性辐射线的吸收程度来进行定量的分析，在进行常量性分组检测时，可以运用微量的测定方式，用原子吸收光谱法能够准确测定出氧化铝元素，性高，在标准系列GB／T6609中，不少的氧化物都采用该方式进行检测。  

2、电感耦合等离子质谱法(ICP-MS) 电感耦合等离子质谱法是指，把溶液的样品通过雾化器的方式注入等离子体光源中，以高温条件下进行汽化，当离子化的气体被解离出来时，把离子的质荷比进行分离，通过对各项离子的谱峰强度来进行分析，电感耦合等离子质谱法的检测比原子吸收光谱图麻烦，灵敏度更高，检测出来的可靠性也就越高。 

 3、电感耦合等离子体光谱法 电感耦合等离子光谱法，也即ICP-AES，多在对多元素进行同步测定时使用。其特点是渐变、灵敏度高。在 SN/T 2081-2008以及 YS/T630-2007中对用此法检验的相关元素及其氧化物都有相应规定。   

4、分光光度计法这种方法在检测氧化铝化学元素时使用频率也相对较高，其作用原理是利用元素的吸光性能，通过分析计算由分光光度计产生的光线在透过氧化铝时被吸收的程度从而推算出其化学元素成分的方法。此法既具有分辨率高的优点，还相对稳定和可靠。 

 5、火焰光度计法此法在操作中相对复杂，一半多用来检测氧化铝中氧化钠和氧化钾的含量。它是在将氧化铝雾化后，经火焰激发而产生不同的光线，通过火焰光度计对这些光线发射强度进行测量继而计算出相关元素的含量。  

6、辉光放电质谱法(GD-MS)辉光放电质谱法是氧化铝元素检测方法中的方式，这种检测方法就是以辉光放电源作为一项离子源，将其与质谱仪串联起来合并分析，就目前的技术手段而言，辉光放电质谱法是对氧化铝元素检查为有效的方式，在进行检测时只需要将氧化铝的样品和导电材料置入混合压制而成的阴极中即能开始检测。例如，以铜粉作为导电材料，与Al2O3粉末混合之后，将其进行压片处理，用直流辉光放电质谱法来对氧化铝中的元素直接进行检测，这样的检测结果与通过直流式的电弧发光质谱法的检测结果是一致的。