无损检测是利用声、光、磁和电等特性,在不损害或不影响被检测对象使用性能的前提下,检测零部件是否存在缺陷或不均匀性,给出缺陷的大小、位置、性能和数量等信息,进而判断被检对象所处技术状态的所有技术手段的总称。
检测项目:
1、射线检测:利用射线穿透物质时的衰减特性来探测被检物中的不连续性(缺陷)并记录与实现其图像的方法。射线检测按照射线(或辐射)源不同可分为X射线检测、γ射线检测、中子射线检测、质子射线检测和电子辐射检测等方法。
2、超声波检测:利用人感觉不到的高频声波(>20000Hz)在被检物中的传播、反射、衰减等特性判断测定被检物缺陷的方法。
3、磁粉检测:被检物在磁场中被磁化后,缺陷部位产生漏磁磁场,在被检物表面撒上磁粉,缺陷处有磁粉附着从而显示出缺陷。磁粉检测只适用于铁磁性材料。铁磁性材料上非磁性涂层厚度小于50um时,对磁粉检测灵敏度影响很小。缺陷长度方向与磁场方向相垂直是磁粉检测的重要条件。
4、渗透检测:施加于被检物的渗透剂靠毛细作用渗入被检物表面缺陷内,清洗被检物后,用显像剂将残留在缺陷中的渗透剂吸出,从而以荧光或着色图像显示缺陷的形状和位置。渗透液对缺陷的渗透能力与渗透液表面张力、渗透液对固体的润湿作用、缺陷形状和大小以及渗透液粘度等有关。
检测项目与涉及标准:
序号 | 项目/参数 | 检测标准(方法)名称及编号(含年号) |
1 | X射线检测 | GB/T3323-2005;GB/T 5677-2007 ;JB/T 4730.2-2005 |
2 | 超声波检测 | GB/T2970-2004;GB/T 7734-2004;GB/T 11345-2013;CB/T 3559-2011;GB/T4162-2008;GB/T 6402-2008;GB 7233.1-2009 ;JB/T 4730.3-2005;GB/T5193-2007;GB/T 6519-2013 |
3 | 磁粉检测 | JB/T6061-2007;GB/T 9444-2007;JB/T 4730.4-2005;CB 819-1975;CB973-1981 |
4 | 渗透检测 | JB/T6062-2007;GB/T 9443-2007;JB/T 8466-1996;JB/T 4730.5-2005;CB/T3290-2013; |