钨矿XRF光谱检测 白钨/黑钨矿元素成分

钨矿光谱成分检测，通常指的是利用 “X射线荧光光谱法” 对钨矿石或钨精矿进行快速、多元素分析的检测技术。

以下是关于钨矿XRF光谱成分检测的全面解析。

XRF检测在钨矿分析中的核心优势

快速高效：一次制样，2-5分钟内可获得钨（W）及10多种伴生/杂质元素的结果。

无损分析：样品在测试后物理化学性质不变，可留存或用于其他分析。

宽含量范围：从微量（ppm级）到主量（百分之几十）均可分析。

适用于复杂矿物：对黑钨矿、白钨矿等钨矿物分析效果好。

检测核心目标元素

主量元素：

钨（W）：核心指标，通常以三氧化钨（WO₃） 的形式报告品位。

关键伴生有价元素：

锡（Sn）、钼（Mo）、铋（Bi）、铜（Cu）、铅（Pb）、锌（Zn）。

有害杂质元素（对冶炼和环保至关重要）：

砷（As）、硫（S）、磷（P）、锑（Sb）。

脉石成分（影响选矿和冶炼成本）：

硅（Si）、钙（Ca）、铁（Fe）、铝（Al）、锰（Mn）、镁（Mg）。

标准检测流程（XRF法）

XRF分析的精髓在于 “制备一个均匀、稳定、有代表性的固体样品”。

1. 样品制备（关键步骤）

钨矿硬度高、密度大，制样要求严格。主流方法有两种：

硼酸盐熔片法（shouxuan，ue）：

流程：将精细研磨的钨矿粉末（约0.5-1.0g）与高纯熔剂（如四硼酸锂/偏硼酸锂混合物） 按一定比例（如1:10）混合，在铂金-黄金坩埚中于1050-1150℃下熔融，浇注成均匀、光滑的玻璃圆片。

优点：

完全消除“矿物效应”和“粒度效应”，样品高度均匀。

标准曲线适用性广，校准稳定。

对轻元素（如S、P）分析效果好。

缺点：成本高、耗时，稀释了低含量元素。

粉末压片法（快速、经济）：

流程：将样品研磨至-200目（<75微米），与粘结剂（如硼酸、微晶纤维素）混合，在高压（通常20-30吨压力）下压制成坚固、平整的圆片。

优点：制样速度快，成本低，适合大批量样品和生产控制。

缺点：

难以完全消除矿物和粒度效应，可能导致精度下降，尤其对钨、锡等重元素。

对轻元素（S、P）的灵敏度较低。

需要建立与矿石矿物组成匹配的校准曲线。

2. 仪器校准与标准化

校准曲线：必须使用一系列钨矿有证标准物质，涵盖待测元素的全部含量范围，通过测试这些标样来建立元素含量与X射线强度之间的数学关系（校准曲线）。

漂移校正：每日分析前，需使用监控样对仪器进行再标准化，校正仪器的长期漂移。

3. 上机测试

将制备好的熔片或压片放入XRF光谱仪样品腔，选择已建立的钨矿分析方法程序，自动进行测试。

4. 数据处理与报告

仪器软件根据校准曲线自动计算各元素的含量，并生成报告。