装饰面材用石英砂检测 高纯硅石和石英砂检测
装饰面材用石英砂和高纯硅石（石英砂）的检测需根据其用途（如人造石材、涂料、电子级材料等）关注化学成分、物理性能及杂质含量。以下是两类材料的检测要点、方法及标准指南：
一、装饰面材用石英砂检测
1.核心检测项目
化学成分：
二氧化硅（SiO₂）含量：决定材料纯度（通常≥98%）。
杂质元素：Fe₂O₃、Al₂O₃、CaO、MgO、TiO₂等（影响颜色及耐候性）。
物理性能：
粒度分布：激光粒度仪分析（D50、D90等关键指标）。
白度：分光光度计测定（装饰面材需白度≥90%）。
吸油值：反映石英砂与树脂的结合能力。
pH值：影响材料稳定性（通常要求中性）。
其他：水分、烧失量、放射性（符合GB6566-2010）。
2.检测方法
化学成分分析：
X射线荧光光谱（XRF）：快速测定主量元素（参考GB/T21114-2007）。
电感耦合等离子体发射光谱（ICP-OES）：检测微量金属杂质。
粒度分析：激光衍射法（GB/T19077-2016）。
白度测定：GB/T5950-2008《建筑材料与非金属矿产品白度测定方法》。
3.相关标准
GB/T32603-2016 《人造石用石英砂》
规定SiO₂≥98%，Fe₂O₃≤0.1%，粒度范围（如20-140目）。
JC/T2450-2018 《涂料用石英砂》
明确杂质含量、吸油值及耐酸性要求。
二、高纯硅石（电子级/光伏级石英砂）检测
1.核心检测项目
超高纯度SiO₂：≥99.9%（电子级要求≥99.99%）。
痕量杂质：
金属杂质：B、P、Na、K、Fe、Cu等（ppb级，影响半导体性能）。
放射性元素：U、Th（光伏级要求极低）。
晶体结构：X射线衍射（XRD）检测α-石英相纯度。
物理性能：
密度、莫氏硬度、热膨胀系数。
2.检测方法
超高纯SiO₂检测：
ICP-MS（电感耦合等离子体质谱）：检测ppb级杂质（参考SEMIC8-0302）。
辉光放电质谱（GDMS）：适用于超低杂质分析。
晶体结构分析：XRD（GB/T23413-2009）。
放射性检测：高纯锗γ能谱仪（参考GB6566-2010）。
3.相关标准
GB/T32603-2016 《高纯石英砂》
分级标准（如4N级SiO₂≥99.99%）。
SEMI标准（国际半导体设备与材料协会）：
SEMI C8-0302 电子级石英砂技术规范。
ASTME1835-14 《高纯石英中痕量元素测定标准方法》。
三、通用检测流程
取样与制样：
按GB/T 2007.1-1987《散装矿产品取样、制样通则》进行代表性取样。
高纯样品需在洁净环境下粉碎、酸洗（避免污染）。
前处理：
装饰面材石英砂：酸溶（HF+HNO₃）后稀释检测。
高纯硅石：高温熔融（碳酸钠硼酸混合熔剂）提取杂质。
仪器分析：
XRF/ICP-OES/ICP-MS逐级分析，确保数据准确性。