SEM能谱检测介绍
SEM能谱检测，即扫描电子显微镜检测（ScanningElectronMicroscope，简称SEM)是继透射电镜（TEM之后发展起来的一种电子显微镜）。扫描电子显微镜的成像原理和光学显微镜或透射电子显微镜不同，它是以电子束作为照明源，把聚焦得很细的电子束以光栅状扫描方式照射到试样上，产生各种与试样性质有关的信息,然后加以收集和处理从而获得微观形貌放大像。
中科检测开展SEM能谱检测服务，可为高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物等产品提供专业的SEM能谱检测、定性分析、半定量分析、元素分析等服务。
SEM能谱检测范围
1、高分子、陶瓷、混凝土、生物、矿物、纤维等无机或有机固体材料分析；
2、金属材料的相分析、成分分析和夹杂物形态成分的鉴定；
3、可对固体材料的表面涂层、镀层进行分析，如：金属化膜表面镀层的检测；
4、金银饰品、宝石首饰的鉴别，考古和文物鉴定，以及刑侦鉴定等领域；
5、进行材料表面微区成分的定性和定量分析，在材料表面做元素的面、线、点分布分析。
SEM能谱检测项目
SEM能谱检测、定性分析、半定量分析、元素分析等。
SEM能谱检测标准
GB/T 35099-2018 微束分析 扫描电镜-能谱法 大气细粒子单颗粒形貌与元素分析
GB/T 17359-2012 微束分析 能谱法定量分析
GB/T 15244-2013 微束分析 硅酸盐玻璃的定量分析 波谱法及能谱法
DB44/T 1215-2013 利用扫描电子显微术和X射线能谱法表征单壁碳纳米管的特性
