矿石化学成分 理化性能测试

更新:2024-06-29 10:00 发布者IP:61.140.94.135 浏览:0次
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化学成分检测 物理性能测试 抗拉强度测试
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矿石主要成分是什么?

矿石一般由矿石矿物和脉石矿物组成。矿石中所含矿石矿物和脉石矿物的份量比,随不同金属矿石而异。在同一种矿石中亦随矿石贫富品级不同而有差别。


矿石矿物是指矿石中可被利用的金属或非金属矿物,也称有用矿物。如铬矿石中的铬铁矿,铜矿石中的黄铜矿、斑铜矿、辉铜矿和孔雀石,石棉矿石中的石棉等。


脉石矿物是指那些与矿石矿物相伴生的、暂不能利用的矿物,也称无用矿物。如铬矿石中的橄榄石、辉石,铜矿石中的石英、绢云母、绿泥石,石棉矿石中的白云石和方解石等。脉石矿物主要是非金属矿物,但也包括一些金属矿物,如铜矿石中含极少量方铅矿、闪锌矿,因无综合利用价值,也称脉石矿物。

 

矿物成分分析方法

矿物化学成分的分析方法有常规化学分析,电子探针分析,原子吸收光谱、激光光谱、X射线荧光光谱,等离子光谱和极谱分析,中子活化分析及等离子质谱分析等。


在选择成分分析方法时,应注意检测下限和精密度。


检测下限(又称相对灵敏度)指分析方法在某一确定条件下能够可靠地检测出样品中元素的*低含量。显然,检测下限与不同的分析方法或同一分析方法使用不同的分析程序有关。


精密度(又称再现性或重现性)指某一样品在相同条件下多次观测,各数据彼此接近的程度。通常用两次分析值(C1和C2)的相对误差来衡量分析数值的精密度。即


相对误差RE=×10*%


常量元素(含量大于或等于0.1%)分析中,根据要求达到分析相对误差的大小,对分析数据的精密度作如下划分:


定量分析:RE<±5%近似定量分析:RE<±(5~20)%


半定量分析:RE=(20~50)%


定性分析:RE>±10*%


定量分析要求主要是对常量组分测定而言的,微量组分测定要达到小于±5%的相对误差则比较困难。


1.化学分析法


化学分析方法是以化学反应定律为基础,对样品的化学组成进行定性和定量的系统分析。由于化学分析通常是在溶液中进行化学反应的分析方法,故又称“湿法分析”。它包括重量法、容量法和比色法。前两者是经典的分析方法,检测下限较高,只适用于常量组分的测定;比色法由于应用了分离、富集技术及高灵敏显色剂,可用于部分微量元素的测定。


化学分析法的特点是精度高,但周期长,样品用量较大,不适宜大量样品快速分析。


2.电子探针分析法


电子探针X射线显微分析仪,简称电子探针(EMPA)。它是通过聚焦得很细的高能量电子束(1μm左右)轰击样品表面,用X射线分光谱仪测量其产生的特征X射线的波长与强度,或用半导体探测器的能量色散方法,对样品上被测的微小区域所含的元素进行定性和定量分析。样品无论是颗粒,还是薄片、光片,都可以进行非破坏性的分析。


电子探针的主体由电子光学系统、光学显微镜、X射线分光谱仪和图像显示系统4大部分组成。此外,还配有真空系统、自动记录系统及样品台等(图24-3)。其中测定样品成分的可分为X射线波谱仪和X射线能谱仪,过去电子探针只采用前者,因为它分辨率高,精度高,但速度慢。现代新型电子探针一般两者皆用。能谱分析方法可做多元素的快速定性和定量分析,但精度较前者差。

电子探针可测量元素的范围为4Be—92U。灵敏度按统计观点估计达十万分之三,实际上,其相对灵敏度接近万分之一至万分之五。一般分析区内某元素的含量达10-14就可感知。测定直径一般*小为1μm,*大为500μm。它不仅能定点作定性或定量分析,还可以作线扫描和面扫描来研究元素的含量和存在形式。线扫描是电子束沿直线方向扫描,测定几种元素在该直线方向上相对浓度的变化(称浓度分布曲线)。面扫描是电子束在样品表面扫描,即可在荧屏上直接观察并拍摄到该元素的种类、分布和含量(照片中白色亮点的稠密程度表示元素的浓度)。目前,电子探针已卓有成效地应用于矿物的成分分析、鉴定和研究等各个方面。


值得注意的是,电子探针一个点的分析值只能代表该微区的成分,并不是整个矿物颗粒的成分,更不能用来代表某工作区该矿物的总体成分。因为在矿物中元素的分布是不均一的,不能“以点代面”。对微米级不均匀的矿物,只有采用适当的多点测量,以重现率高的点为依据讨论矿物成分的特征和变化,才能得到较可靠的认识。此外,电子探针对查明混入元素在矿物中存在形式的能力是有限的。它能分析已构成足够大小的矿物相的机械混入物,而对以类质同象混入物形式存在的元素,电子探针是无能为力的。要解决这个问题,必须用综合的手段。应当指出,根据在电子探针面扫描图像上,将分布均匀的混入元素视为类质同象混入物的依据是不够充分的,因为混入元素的均匀分布,并不都是因为呈类质同象形式所引起,还可以由固溶体分解而高度离散所致。而现代电子探针的分辨率(约7.0μm),还不能区分它们,需要用高分辨的透射电镜(分辨率达0.5~1nm,相当于2~3个单位晶胞)、红外光谱分析、X射线结构分析等方法相互配合,才能解决混入元素在矿物中存在的形式问题。


电子探针分析法对发现和鉴定新矿物种属起了重要的作用。这是由于电子探针在微区测试方面具有**,因而对于难以分选的细小矿物进行鉴定和分析提供了有利条件。如对一些细微的铂族元素矿物、细小硫化物、硒化物、碲化物的鉴定都很有成效。


电子探针也有它的局限性。例如,它不能直接测定水(H2O,OH)的含量;对Fe只能测定总含量,不能分别测出Fe2+和Fe3+含量等。


电子探针分析的样品必须是导电体。若试样为不导电物质,则需将样品置于真空喷涂装置上涂上一薄层导电物质(碳膜或金膜),但这样往往会产生难于避免的分析误差,同时也影响正确寻找预定的分析位置。样品表面必需尽量平坦和光滑,未经磨光的样品*多只能取得定性分析资料,因为样品表面不平,会导致电子激发样品产生的X射线被样品凸起部分所阻挡,所得X射线强度会减低,影响分析的精度。

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