未知物成分分析 未知成分化验

未知物成分分析  未知成分化验 

未知成分分析是通过综合分析手段对未知的成分进行定性和定量分析，为科研、配方研究、产品开发、改进生产工艺提供科学依据。为企业的生产有、研发提供科学的支持。米格实验室为大家整理常用到的分析手段如下，每种分析技术都有自己的特点和应用方向（后附部分结果展示）。

分析方法

应用范围

分析特点

FTIR

研究物质的化学结构，确定物质的组成结构（分子结构、官能团等特征信息），

广泛应用于部分无机物、有机物、高分子聚合物、药品、生物材料、矿物等

材料的分子结构分析，适合分析有机材料。

1.检测的典型极限是 100 nm 的膜厚

2.检测限：1-10wt％（已知组分的定量）；

5-20％（识别未知成分）

3.ATR 深度解析：0.1~1µm

Raman

提供样品化学结构、相和形态、结晶度及分子相互作用的详细信息，适合

分析有机材料。

1.采集深度：~1-5µm

2.检测限：1wt%

GC-MS

广泛应用于复杂组分的分离与鉴定，适宜分析有机小分子、易挥发、热稳定、不易分解、不易反应、300℃左右能汽化的化合物，特别适合用于同系物、同分异构体的分离。

1.检测到信号：分子离子和特征碎片离子

2.检测到元素：分子离子高达 m / z 800

3.检测限：约 1 ng 引入色谱柱

4.对于液体基质，低至中 ppb 级别，对于

固体基质，低至纳克级–动态顶空分析

HPLC

适合分析高沸点、热稳定性差、相对分子量大（大于 400 以上）的有机物。

TOF- SIMS

适合分析无机，有机材料，全元素的定性半定量分析（定量分析需要标样），

以及同位素，分子结构，化学键分析，可以进行深度剖析。

1.空间分辨率：0.07µm

2.采集深度：0.1-2nm

3.成分检出限：ppm

4.采集信息：元素 H~U，同位素、分子结

构、化学键

XPS

适合分析无机，有机材料，元素的定性半定量分析，以及化学态分析，可以

进行深度剖析。

1.空间分辨率：7.5µm

2.采集深度：0.5-7.5nm

3.成分检出限：0.1atom%

4.采集信息：元素 Li-U，化学态

ICP MS

固体，液体，表面污染物，可浸出物和可萃取物的痕量和超痕量元素分析。

1.检测限 ppb-ppm

XRD

物相分析；晶粒尺寸；小角散射；晶格常数测定；结晶度测定；残余应力测

定；薄膜厚度测量；摇摆曲线测量。

1.采集深度：1-3µm

2.无法识别非晶材料

3.检测限：1atom%

TGA

常用于测定物质在熔融，相变，分解，化合，凝固，脱水，蒸发，升华等特

定温度下发生的热量和质量变化，广泛应用于无机，有机，材料等领域。

EDS

适合分析无机材料，元素的定性半定量分析。

1.空间分辨率：0.1µm

2.采集深度：1-3µm

4.采集信息：元素 B-U

XRF

B-U 范围元素定性定量分析，适合分析无机材料。

2.采集信息：B-U (WDXRF); Na-U

(EDXRF)

3.检测限：大多数元素 1 ppm-100 ppm

AES

适合分析无机材料，元素的定性半定量分析以及部分化学态分析，可以进行深度剖析。

分析固体材料表面纳米深度的元素（部分化学态）组成，可以对纳米级形貌进行观察和成分表征。既可以分析原材料（粉末颗粒，片材等）均匀表面组

成，又可以分析材料特定微区结构或特定产品表面缺陷如污染，腐蚀，掺杂，吸附、晶界杂质偏析等，还具备深度剖析功能表征钝化层，掺杂深度，纳米级多层膜层结构等。